技术编号:12451106
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学显微成像技术,具体涉及一种结构光照明超分辨显微成像系统及其成像方法。背景技术超分辨光学显微技术利用对荧光发射在空间或时间上的调制,实现了突破光学衍射极限的显微成像。结构光照明超分辨显微成像技术(StructureIlluminationMicroscopy,SIM),是在宽场荧光显微的基础上,利用特殊调制的结构光照明样品,运用特定算法从调制图像中提取高频信息,突破衍射极限的限制。二维SIM的常规重建方法需要至少9张原始图像。该重建方法由Gustafsson提出[1],在每一个照明方...
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