技术编号:12452563
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明设计缺陷定位技术领域,特别是改进了一种常规超声不容易解决的小于半波长微小缺陷以及复杂结构试件的后处理算法。背景技术超声相控阵技术逐渐应用于工业无损检测,特别是在核工业及航空工业等领域。如核电站主泵隔热板的检测;核废料罐电子束环焊缝的全自动检测及薄铝板摩擦焊缝热疲劳裂纹的检测。随着超声相控阵检测技术的不断普及,使得成像算法的研究越来越得到广泛的关注。其中HOMLES提出的全聚焦成像算法,使各阵元声束在检测区域内的划分的每一个点上进行聚焦,因此对于常规超声相控阵不容易解决的小于半波长的微小缺陷...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。