技术编号:12455204
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及探测器技术领域,特别是涉及一种平板探测器电阻测试治具。背景技术目前,并没有一种合适的方法及仪器,来测试组成平板探测器的零部件及各零部件之间的电阻阻值,从而无法知晓平板探测器内零部件本身的阻值或者组装之后的零部件之间的阻值,这样一来,在图纸定义及IQC(IncomingQualityControl,来料质量控制)检测阻值时,将会缺乏实际验证基础,不利于管控零部件的生产制备工艺和组装水平。因此,如何快速有效地测试平板探测器的零部件及各零部件之间的电阻阻值,是亟待解决的问题。发明内容鉴于以上...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。