技术编号：12455725
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种止退爪结构和一种包括所述止退爪结构的应用多类型多数量探针模组的精密测试模组。背景技术随着高端智能电子产品的竞争日趋激烈，有特色的产品能在竞争中处于领先，其中小巧精致的产品更容易得到市场的青睐，然而这样的产品意味着其内部元器件集成度更高，进而导致其主板上的测试点间距变小，测试项变多。而且小产品的精密度极高，用传统的探针模组，不仅维护成本高，而且测试通过率较低，导致生产效率不高，并且其还存在以下几点缺点：定位基准：小巧的产品做不到定位特征以及严格的外形尺寸，没办法用传统的定位特征定位或...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。