技术编号：12456264
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试控制电路、芯片及测试控制方法。背景技术为了提高产品的可靠性，芯片出厂前需要进行系统的测试。通常在芯片内部集成测试电路，通过测试电路直接对芯片进行测试以提高测试效率。由于在测试模式下，测试者对芯片中的存储器拥有全部操作权限，为保护存储在芯片内用户数据的安全，在芯片测试完成后要退出测试模式。在公开号为“CN104678284A”，发明名称为“一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法”的申请中，提到了通过测试使能信号控制测试电路的时钟信号和复位信号，在测试使能...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。