技术编号：12456678
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及实验设备，具体涉及一种用于电子元件老化筛选试验的设备。背景技术电子元器件是电子设备的基础。由于电子设备具有通电时间长，使用范围宽，使用环境差异较大的特点，因此系统的可靠性很大程度上取决于元器件的可靠性,所以使用前对电子元器件的检验和老化筛选显得尤为重要。老化筛选的原理及作用，是给电子元器件施加热的、电的、机械的或者多种结合的外部效应力，模拟恶劣的工作环境，使它们内部的潜在故障加速暴露出来，筛选剔除那些失效或参数变化了的元器件，尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。元器件老化筛选试验台是一...
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