技术编号：12457338
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于核物理探测领域。本发明为一种2D中子闪烁体位敏探测器测试系统，特别是涉及利用激光束模拟中子在闪烁屏上的光斑，对闪烁体位敏核探测器的各个通道进行测量测试，而不需要放射源或额外的其他探测器辅助测量位置等参照信息。背景技术以新型闪烁体和光电读出结构为基础的中子探测器近几年发展迅速，特别以掺杂闪烁探测器为代表，然而中子闪烁体位敏探测器在探测-读出环节大多采用了光电倍增管等放大器件，由于生产工艺等客观原因，其各个读出通道的性能参数难以保持一致，导致闪烁体位敏探测器的性能参数在批量生产中难以获得较...
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