技术编号:12465307
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光纤测量技术领域,特别涉及一种采用光纤端面刻槽结构的温度测量方法。背景技术通常,全光纤化的传感器具有结构紧凑、使用寿命长、对测试量敏感、传输信道多等优势广泛地应用于光纤传感、光纤通信、光学加工等领域。通过光纤端面微加工技术或搭建具有干涉结构的全光纤传感器,在泵浦源作用下,输出具有梳状谱图样的干涉谱曲线。在现有技术中,干涉仪分为单频激光干涉仪和双频激光干涉仪,其均采用外部构件将光束分成两路进行干涉。因此现有技术中往往会引入光束分割部件进行光束分割,通过引入分割部件不但使的干涉仪本身更加复...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。