技术编号:12466258
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及复合膜的缺陷判别方法。更详细地说,涉及在制造工序中通过去除不需要检查的区域从而使检查效率提高的复合膜的缺陷判别方法。背景技术近年来,液晶显示器、有机发光显示器、场致发射显示器(FED)、等离子体显示面板(PDP)等各种图像显示装置被广泛地开发使用。另一方面,图像显示装置作为制品发货之前,由于在制造过程中可产生各种不良,因此经过多个检查过程。图像显示装置中最多使用的部件之一为偏光膜、相位差膜等的复合膜,因此复合膜的缺陷为图像显示装置的不良的主要原因之一。在复合膜的缺陷的检测中,首先正确地...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。