技术编号:12466516
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及超声无损检测技术领域,尤其指一种高分辨率TOFD检测超声波探头。背景技术超声波衍射时差检测技术(TimeOfFlightDiffractionTechnology,简称TOFD),是一种依靠从待检试件内部结构(主要是指缺陷)的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测缺陷的方法,采用一发一收两个宽带、窄脉冲探头进行检测,探头相对于焊缝中心线对称分布。发射探头产生纵波波束以一定角度入射到被检工件中,其中部分波束沿近表面传播被接收探头接收,部分波束经底面反射后被探头接收。接收探头通过接收缺陷...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。