技术编号：12467021
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开总体上涉及电子电路，并且更具体地涉及用于监测集成电路的供电电压的电路。背景技术在许多应用中，期望在集成电路的操作过程中对其供电电压的偏差(variation)进行测量。实际上，该供电电压的偏差可能引起电路操作中的问题，以及/或者反映电路功耗，从而引起电路活动性的偏差，以及/或者反映经受应力(例如，可能是有意的干扰，例如，攻击；或者偶然的干扰，例如，静电放电)的电路的行为。例如，出于测试的需要，经由应用于电路的不同位置并且连接至测量设备的探针，而对供电电压进行测量。从而，该测量对于由于导电探...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。