技术编号：12467072
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及紧缩场技术，特别涉及一种新型全息反射阵紧缩场，其主要应用于毫米波\亚毫米波测试，可以满足天线方向图或目标RCS测试的远场条件需求。背景技术随着毫米波\亚毫米波技术的快速发展，毫米波\亚毫米波天线测试的需求日益迫切。传统的近场，室外远场在毫米波测试方面均存在难以克服的缺陷。紧缩场技术在毫米波天线测试技术中具有不可替代的重要作用。传统反射面天线受制于机械加工精度的限制，应用于亚毫米波段较为困难或制造成本太高。发明内容本发明的技术解决问题：克服现有技术的不足，提供一种全息反射阵紧缩场，可以替...
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