技术编号:12471752
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于图像检测技术领域,特别涉及一种磁环缺陷多目视觉检测方法及系统。背景技术表面缺陷作为评价磁环质量的一项重要指标,对其进行快速准确稳定的检测成为目前生产过程中必不可少的一个环节,在当前的磁环生产、制作流程中,由于生产工艺、机械设备以及认为操作等原因引起的表面缺陷时有发生,主要出现在磁环的正面、反面、外圆周面和内圈,缺陷一般可分为:裂纹、杂质、掉漆、挂具粘黏等多情况种。裂纹的宽度较小,但是分布的区域相对于其他缺陷较广。面积较小但带有明显色差的缺陷则为表面的掉角和圈裂,而杂质则是面积较大且与表...
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