技术编号:12511830
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及构建在集成电路上的片上系统的硬件中实现的安全措施,例如用于在条件访问系统中管理用于访问多媒体内容的用户权限。特别地,老化或可靠运行寿命时间由在片上系统中实现的硬件设备来控制。背景技术在运行使用期间半导体部件的可靠性降低。事实上,它们受诸如温度和电压的可变运行约束影响。这些约束导致老化效应,其与由于运行期间的温度和电压导致的累积应力成比例,并且根据或多或少涉及片上系统的部分而变化。一种这样的老化效应是当电荷载流子陷入CMOS(互补金属氧化物半导体)晶体管的栅极氧化物内时产生的热载流子注入...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。