技术编号:12530277
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种测试平台。背景技术测试平台用于对待测物进行限位,以供测量仪器捕捉和测量待测物的尺寸。相关技术中,一测试平台只能用于限位一种规格的待测物,测量不同尺寸的待测物需要使用多个测试平台,造成成本和资源的浪费。实用新型内容本实用新型的主要目的是提供一种测试平台,旨在保证一个测试平台可以对不同尺寸待测物进行限位,节约成本和资源。为实现上述目的,本实用新型提出的测试平台包括限位系统和动力系统;所述限位系统包括松夹部;所述松夹部包括第一滑块阵列,所述第一滑块阵列包括呈阵列分布且滑移方向相同的多...
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