技术编号:12531557
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于光学测量技术领域,尤其涉及一种结合低相干干涉测量和显微成像技术的颗粒形态的光学检测装置,可用于工业生产中对颗粒进行测试,获取颗粒的形态信息。技术背景在自然环境、工农业生产制造及人类日常生活等方方面面,各种各样的颗粒无处不在。这些细小的分散物质,以固体、气体和液体等状态形式存在着,比如像空气中的尘埃和水滴,海滩上的沙粒,工厂排放的气体中的烟尘等。对颗粒的认识和研究逐渐渗透到化工、冶炼、制药等诸多的领域。颗粒的粒度和粒形与产品的性能和质量密切相关。例如,在涉及燃料燃烧的技术中,燃料的雾...
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