技术编号：12532536
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。实用新型属于一种放电特性测试装置，具体是设计一种用于中子发生器离子源的放电特性测试装置。背景技术随着社会发展，中子发生器已在越来越多的工业范围内得到应用，如中子测井、中子照相、中子探测毒品爆炸物等。相应的，如何提高中子发生器的性能，使它能满足工业应用的条件，是当前非常重要的课题。离子源是中子发生器的核心部件，它的放电特性将大大影响中子发生器的性能，因此设计一种针对中子发生器离子源的放电特性测试装置是非常有必要的。但由于中子发生器贵重易坏，且实验前中子发生器内要抽真空，故很难设计能够即时反映并准确...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。