技术编号:12548200
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及计算机测量计算领域,具体而言,涉及一种相位展开方法及系统。背景技术近年来,随着计算机技术,光学和光电子技术的迅速发展,物体的三维面形测量具有重要的意义。基于相位分析类的光学三维面形测量方法因为具有非接触、测量速度快、精度高等优点,已得到深入研究并且被广泛应用。这一类方法是将被测面形的高度分布调制到投影光场的相位变化中,分析获取到的变形条纹图,计算得到对应的相位分布来重建被测物体的三维面形分布。由于相位分布是通过反正切函数运算得到,计算出的相位值被截断在函数主值范围(-π,π]内,呈锯齿...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。