技术编号:12590988
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种电路测试装置,尤其涉及一种智能型集成电路测试装置。背景技术集成电路芯片在出厂前需要经过各种测试,现有的对集成电路进行测试的装置一般只能对一种型号的集成电路芯片进行测试,由于不同的集成电路芯片其尺寸不尽相同,引脚之间的距离也有差别,因此当需要测试不同的集成电路芯片时就需要更换相应的集成电路测试装置,从而增加了测试的成本,减少了测试装置的通用性。有鉴于上述的缺陷,本设计人,积极加以研究创新,以期创设一种新型结构的智能型集成电路测试装置。发明内容为解决上述技术问题,本实用新型的目的是...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。