技术编号：12592682
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及激光测距领域，特别是涉及一种基于激光测距的内光路相位补偿方法及系统。背景技术激光相位测距按测量光路分为四种测距方法：单发单收、单发双收、双发单收、双发双收。四种测距方案都可采用差频法实现：主振信号由激光二极管发射出去，经过距离D被反光面反射形成反射信号，反射信号经过距离D后，进入雪崩二极管(AvalanchePhotoDiode，APD)，并与本振信号在APD中混频，将混频输出信号进行放大、滤波处理得到低频信号，单片机采集低频信号并进行模数转换、数字信号处理得到相位。其中双发单收、双发...
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