技术编号：12600768
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及的是一种保护芯片测试模式的方法和装置。背景技术芯片一般都会有一个测试模式，这是在制造芯片的过程中检验芯片用的，用于在晶圆上或封装后的芯片执行内部测试程序所用。测试模式往往允许使用那些在芯片实际应用中严格禁止的访问类型。此外，例如扫描链这样的测试电路，可以使工程师在拿到芯片后对芯片内部的寄存器状态进行控制，这样就很容易读出芯片内部的数据。但是对芯片检测而言，这些又是不可避免的。因此，在芯片出厂后，就必须禁止芯片从工作模式向测试模式的转换。为了防止非法用户进入到测...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。