技术编号：12657121
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及贵金属检测技术领域，具体涉及一种基于X射线检测3D硬金饰品内部缺陷的方法。背景技术“3D硬金”是珠宝首饰行业中的新品种，相较于传统的足金，既有足金的高成色，又具有很高的表面硬度，非常受消费者的喜爱。目前，市场上3D硬金的内部结构多为薄壁中空，金含量为999‰，其生产方式主要包括电铸法和熔金冶炼法两种，在生产工艺中具有模具刷银的步骤，因而对于成品内层除银是否干净需要进行探究，即需要对产品金含量进行检测，目前检验检测机构普遍使用的是X射线荧光光谱法与化学法。但是，本发明的发明人经过研究发现...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。