一种用于晶体测定的可调夹持工具的制作方法与工艺技术资料下载

技术编号:12657152

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本发明涉及一种夹持工具,具体涉及一种用于晶体测定的可调夹持工具。背景技术晶体定向仪是对晶体材料进行定向测量的专用仪器。它的基本原理是利用X射线在晶体的周期性晶格内实现布拉格衍射而确定晶体的表面实际晶向。它可以精密快速的测定天然和人造单晶(如光学晶体,压电晶体,激光晶体,非线性光学晶体,半导体晶体等等)的切割角度,与切割机相配合使用(通常有外圆切割机,内圆切割机,金刚石线切割机等)时能够用于这些晶体的定向切割,获得指定晶向的晶体表面。晶体定向仪是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器,被广泛应用于晶体...
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