技术编号:12657274
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种基于低频阻抗分析仪磁性颗粒膜磁极化率测量方法,本发明还涉及非磁性薄膜的电极化率测量方法。背景技术随着电子材料的普及和发展,磁性材料在信息储存、磁传感器、工业自动化控制、及各种安全系统方面有着广泛的应用。电子设备的进一步微型化,要求对磁性材料的测量频率也在不断提升。传统的对于高频测量磁极化率的方法有谐振微扰法、单线圈法、带线法等,这些方法适用于介电损耗和磁滞损耗材料。这些测量方法处于发展阶段。薄膜磁性材料,由于厚度小,易变形。同时存在较强的各向异性。测量难度大。测量误差高。复数磁极化...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。