技术编号:12658334
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种金属微粒带电量测量方法,具体涉及一种金属微粒运动过程中带电量测量方法。背景技术气体绝缘金属封闭开关设备(Gas-insulatedmetal-enclosedswitchgear,简称GIS)及气体绝缘金属封闭输电线路(Gasinsulatedmetalenclosedtransmissionline,简称GIL)在生产、装配、运行过程中,不可避免的会产生金属微粒,带电金属微粒会浮起并运动,且在电极附近发生放电,当金属微粒附着到绝缘子表面时,其绝缘特性会降低,绝缘距离的减少引发闪络...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。