技术编号:12659326
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及射线谱测量仪器设备技术领域,具体涉及一种多分辨率透射柱面弯晶谱仪。背景技术晶体谱仪是使用晶体对X射线进行衍射分光、从而实现对X射线谱进行测量的一种设备。透射柱面弯晶谱仪即为其中的一种,从同一点状辐射源发出的复色X射线经柱面弯晶透射分光后,受弯晶的几何会聚作用,某种波长X射线的衍射线会呈线状和关于中心两侧对称分布的特点;而从整体光谱分布来看,距离对称中心较近的是波长较短的X射线。基于测量需求,传统的透射柱面弯晶谱仪的基本结构包括铅制针孔、柱面弯晶分析器、铅制狭缝、X射线记录设备等。由于通...
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