技术编号：12663512
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种触摸检测方法和装置。背景技术目前，随着触摸屏尺寸的不断增大，大尺寸的触摸屏成品在触控压力一致性方面的性能较差。产品开发人员往往通过增加采样点数或者统一使用时间复杂度较高的滤波算法，过滤无效数据，计算出准确的触摸轨迹。但是，增加采样点数和统一使用时间复杂度较高的滤波算法的方式会导致主处理器的负担增大，在性能要求严格的嵌入式系统中，往往又会导致触控显示刷新延迟等问题，影响用户的触控体验。发明内容本发明实施例提供一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。