技术编号：12666959
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及信息处理技术领域，特别涉及一种数据存储方法及数据存储装置。背景技术为了测试芯片的性能，需要用测序仪采集芯片中各反应单元(即芯片中进行相关反应的反应腔)的输出数据进行研究。现有技术中，为了方便数据的采集，常会设计简单的数据采样原则或采集方法。但本发明的发明人发现，这些数据采样原则或采集方法通常会每次采集的数据的个数有要求，芯片中实际的反应单元的个数要远远小于该要求的个数，而为了满足该要求的个数，采集数据时往往会引入大量的冗余数据(即无效数据)，也就是说原始数据文件中既包括有效数据(芯片中...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。