技术编号:12691375
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于参考环技术领域,尤其涉及一种参考环校准方法及装置。背景技术现有技术中,将参考环作为应答器测试中的参考天线,在射频能量和上行链路这两个频点进行测试。由于参考环制作的材料、工艺等客观原因,制作的参考环与理论公式计算的参考环存在一定的误差,进而导致利用上述参考环作为参考天线对应答器进行测试时,会对应答器的测试结果产生影响。因此,参考环在实际使用中有校准的需求,以期通过校准来减小这个误差,以提高应答器测试结果的精度。在传统的校准方法中,通常是使用一个比被测物精度更高的校准件来对被测物进行校准。...
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