技术编号：12710666
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种上轴瓦与轴之间的轴瓦间隙测量方法。背景技术轴瓦间隙是决定轴旋转好坏关键技术参数，此间隙为轴径的1-3％。目前轴瓦间隙测量采用压铅法，将铅丝放进上轴瓦与轴之间，用轴瓦上螺栓将铅丝压扁，测出压扁铅丝为轴瓦间隙参数，由于铅丝较硬，需用较大压力才能完全压扁，用于大轴瓦上因压力大，压扁铅丝数据较准确，用于小轴瓦上因压力小铅丝不能完全压扁，测得数据就不准确了。发明内容为了克服已有压铅法测量轴瓦间隙存在铅丝硬，需用压力大的不足，本发明的目的提供一种需用小压力测量数据准确的轴瓦间隙测量方法。本发明...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。