技术编号:12711572
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及低温保持应用杜瓦,具体是指一种适合与广泛应用的落射型三维影像仪、显微镜组合实现样品在液氮温度(77K)条件下样品形变、电学性能测量的低温应用杜瓦。背景技术在红外探测器研制领域,随着红外材料研制技术、芯片制造技术和微电子技术的飞速发展,红外焦平面探测器在性能、规模等方面取得了巨大的成就。制冷型红外焦平面探测器因响应速度快、灵敏度高和探测距离远等优异特性在航天遥感、天文探测和军事等敏感领域重要应用而备受各国的重视。用于制造制冷型焦平面探测器所涉及的InSb、HgCdTe和超晶格材料,光敏元...
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