技术编号：12713299
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于分析介质的光学系统。背景技术为了在工艺测量技术中分析介质，尤其是液体，通常使用自动分析器。测量参量的确定在机构中经常通过光学的，例如光度计的或光谱分析的测量来实现。发光二极管是广泛应用于光学测量的光源。如果测量路径相对较长，那么需要限定的来自光束的射线集束。最简单的解决方案是来自平行光束的射线集束。但是，在此出现了不同的问题。一方面，在射线集束的直径很小的情况下，如其在自动分析器中通常出现的那样，能够看作干扰的是，光源不是完美的点光源。发光二极管例如包含具有有限延展尺寸的LED...
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