技术编号：12715035
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于遥感影像在轨几何检校与处理领域，涉及一种基于太阳高度角自适应的高轨面阵相机高精度在轨几何检校方法。背景技术卫星在轨几何检校是光学遥感卫星实现高精度几何定位的关键环节，直接影响卫星影像的内外部几何精度。虽然卫星在发射前都会进行严格的实验室标定，但是由于发射过程中的震动、材料放气、在轨运行时成像条件的改变以及器件的老化等因素的影响，使得卫星几何成像参数发生改变，地面的检校值不能满足高精度几何处理的需要，因此需要对卫星进行在轨检校。目前，针对近景相机、航空相机、以及光学线阵推扫式卫星的几何定...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。