技术编号：12728881
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及相控阵天线测试系统领域，特别涉及一种近场测试系统。背景技术微波移相器是相控阵雷达、卫星通信、移动通信设备中的核心组件，它的工作频带、插入损耗直接影响着这些设备的抗干扰能力和灵敏度，以及系统的重量、体积和成本，因此研究宽带、低插损的移相器在军事上和民用卫星通信领域具有重要的意义，现有移相衰减方案测量频率支持不够宽，且移向衰减模块工作温度范围较窄，因此提出一种宽温宽频的移相衰减单元。发明内容为实现上述技术目的，达到上述技术效果，提出一种近场测试系统，其移相衰减模块可达到-20℃—+55℃宽...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。