技术编号:12735831
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于检测装置,尤其涉及晶片电阻检测与切割装置。背景技术电子市场发展迅速,电子被动元件如晶片电阻发展已成高品质、微型化,在晶片电阻检测与切割流程中,传统的由原来的人工用显微镜通过肉眼来检测晶片电阻的外观及缺陷,但人工检测有诸多的缺点,一方面人的肉眼在长时间观察后会产生疲劳,从而导致晶片电阻品质不稳定、生产效率低下、被检晶片电阻外观精度不够;另一方面会导致产品浪费较多,如果晶片电阻中有检出一颗不良产品,则会连同当颗的一整列都放弃不要。晶片电阻的外观及缺陷检测在整个制程中非常关健,如缺陷检测无法...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。