技术编号：12746842
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电路测试技术领域，具体涉及一种低功率消耗的测试信号源。背景技术时序电路需要处理的信号为大动态范围的交变电流信号。但目前的主流测试设备并不配备高速交流电流型信号源，所以在进行量产测试时，很难进行交流测试。有些厂商因此而放弃交流测试，在量产测试过程中只进行直流测试，从而导致芯片测试的覆盖率大大降低。有些厂商为了保证测试覆盖率，购买定制的专用测试信号源，但由于定制测试设备的成本较高，从而导致大大提高了芯片的测试成本。发明内容针对上述现有技术，本发明目的在于提供，解决现有技术功耗高且通用性低等...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。