技术编号：12747007
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及天线/场探头的校准技术，尤其涉及一种天线/场探头外推法校准用的精密行走装置以及校准系统。背景技术微波天线增益/系数以及微波场探头校准因子的校准一般是在微波暗室进行的，由于微波暗室吸波材料不够理想，存在墙面发射，反射波与直射波合成使得测试空间形成驻波，这不是理想的均匀平面波，接收点的场强与理论场强就会不同，从而就会带来场地误差。另外，天线校准和场探头校准是在有限距离(1～3)m的近场进行，采用近似公式、天线间耦合则会引入近场测量误差。最新研究表明，采用外推法可以大大降低了场地误差和近场测...
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