技术编号：12749395
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于ATE数字测试系统技术领域，尤其涉及一种ATE数字测试系统及其自检方法。背景技术用于ATE领域的数字测试系统，在出厂前的检测和出场后的调试中自检都是必不可少的，自检的目的是能够充分暴露出潜在的问题，传统的自检项目有存储器自检、驱动器环回自检等。存储器自检是将数据写入到板内存储器中，再读出判断是否数据一致，主要验证存储器的功能是否良好。驱动器环回自检是将一段简单的图形从驱动器输出，经过内部或外部路径再回到驱动器进行比较，最终看比较结果是否与预期的一致。这些传统自检项目虽然验证了相关硬件的...
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