技术编号：12783377
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及光学技术领域，尤其涉及一种光学相干层析变形场降噪方法。背景技术光学相干层析(OCT)是一种利用低相干光干涉原理的层析测量技术，它具有测量速度快和无损检测等优点，可以实现材料内部微米级轮廓的精确测量。在结合了光谱仪结构后发展出的谱域光学相干层析技术(SOCT)，进一步提高了该方法的测量速度与信噪比。近年来，以SOCT技术为基础又发展出了一系列新的功能型OCT方法，例如测量材料内部双折射特性的偏振敏感SOCT，测量材料内部流速场的多普勒SOCT，以及测量材料内部变形场的相位对照SOCT等，...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。