技术编号:12784213
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种TD-LTE干扰测试仪结构技术领域本实用新型涉及干扰测试仪技术领域,更具体地说,特别涉及一种TD-LTE干扰测试仪结构。背景技术对于移动通信网络,保证业务质量的前提是使用干净的频谱及信号覆盖。即没有被其他系统使用或干扰。否则,会使受干扰系统的性能以及终端用户使用都会产生较大的影响。随着4GLTE基站的逐步建设,目前已形成了2/3/4G基站共存的局面,系统间干扰的概率也大幅提升,在目前已建设的基站中,已发现大量的移动4GTD-LTE基站受到干扰。这些干扰包括2/3G小区对TDD-LTE小区的阻...
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