技术编号：12784922
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明专利涉及电容老化测试机技术领域，尤其涉及一种隧道式电容老化测试机用夹具。背景技术电容算是一个消耗性的元器件，在电路里面是不可缺少的元件。通常电容要是受过压，过热以及电化学腐蚀都会导致电容的老化，具体表现为充放电的时间会很短，甚至会被击穿，造成电解质的泄露而固化造成直接的短路，原理是：不管是过压还是过热都会让电容里面电解粒子的流动超乎异常的活跃，从而形成逃逸极板的冲压，尤其是过热，这种现象更为明显，直接表现为电容烧掉，发黑，在某种程度上过压也会直接导致过热现象。电子元器件的故障，也就是实效，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。