技术编号:12798837
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于X射线荧光光谱分析领域,具体而言,本发明涉及利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法。背景技术钛白粉具有稳定的物理、化学性质,优良的光学、电学性质以及优异的颜料性能,因此广泛应用于涂料、纸张、油墨、塑料、橡胶等领域。为了提高钛白粉的耐候性、化学稳定性以及分散性等性能指标,一般要对钛白粉进行表面包膜处理。在包膜过程中会引入包膜剂以及微量杂质元素,因此钛白粉中TiO2含量并不是100%。目前,通常使用化学滴定法即金属还原法测定钛白粉中TiO2的含量,其方法操作复杂,比较耗时,试剂消...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。