技术编号：12822853
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试箱领域，特别是一种温升测试箱。背景技术随着科学技术的日益发展，人们对电子产品的需求越来越大。在工厂中，为验证电子产品的使用寿命、稳定性等特性，通常会测试其重要元件的温升，将被测设备置于高于其额定工作温度的某一特定温度下运行，稳定后记录其元件高于环境温度的温升，验证此产品的设计是否合理。测温升的时候通常都需要一个测试箱来模拟电子元件的环境，在特定的标准尺寸当中通过测试仪对电子元件进行测试。常用的测试箱一般都是固定尺寸的，只能对特定产品经行测试，浪费资源。还有一种就是，直接用木板自己搭...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。