技术编号:12830205
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及了一种基于缝隙波导理论的电磁辐射抑制结构及其应用,尤其是涉及了一种基于缝隙波导理论的电磁辐射抑制结构及其应用。技术背景随着电子与电气设备的高速发展,高速数字系统中数据传输速率和时钟频率快速提高,电磁干扰和散热问题成为下一代电子产品所面临的一个重大挑战。为了解决散热问题,在印刷电路板及芯片的封装设计中通常会加入封装盖及散热器。传统的散热器和封装盖通常由高导热率和高导电率的金属制成,随着集成电路操作速率的不断提高,封装盖及散热器很容易与封装基板的金属地平面之间形成谐振腔,噪声电流会通过电容...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。