技术编号：12842979
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种探针，尤其是涉及一种高频测试探针。背景技术随着芯片信号传递速度越来越快。因此对芯片测试用的探针要求也越来越高。传统测试探针结构已经不能满足更高频率的传输要求。需要一种特殊结构的测试探针来实现更高频率的传输要求。现有的探针有套筒，上探针头，下探针头以及弹簧组成。它们之间通过铆接或卷边组成一个探针。每个零件的加工尺寸差异以及组装尺寸的差异。所以在传递信号方面就有很大的差异。而现有探针在信号传输过程中，由于探针自身的感抗，容抗比较高，无法实现对高频信号的传输要求实用新型内容本实用新型...
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