技术编号：12843173
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及测试用探针技术领域，尤其涉及一种用于测试电路基板的高频指标的探针。背景技术随着平板电脑,无线路由器等电子设备功能越来越多,品质要求起来越高,射频信号测试是必不可以少的测试.在实际生产中，在安装天线之前需要确保电路板性能满足要求，都会对电路板进行射频信号测试。在高频范围内，较高的触电质量尤为重要的，以便将对于测量信号不利的反射或衰减降到最小。此外，存在对于简单结构设计和利于维护的需求，因为在这种用于各种(通常是多极触头)测试探针的测试探针装置的元件会磨损或以其它方式被损坏，而必须被更...
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