技术编号:12904098
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种三维测量方法,尤其涉及周期不同步正弦条纹加相位编码条纹的三维测量方法。背景技术条纹投影轮廓术由于非接触、高精度、全场无损耗测量、测量速度快、灵敏度高和自动化程度高等优点,在三维测量中具有重要意义。三维测量系统如图1所示,包括DLP投影仪1、黑白CCD2、工作站3、测量支架4、参考平面5和待测物体6;DLP投影仪1和黑白CCD2放在测量支架4上并分别通过数据线连接到工作站3;工作站3内包含图像采集卡、投影软件、测量软件。投影仪1将带有特征信息的条纹聚焦后投射到参考平面5,由黑白CCD...
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