技术编号：12905064
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。用二进制相移键控测试信号测量出测量仪的幅值相位响应背景技术测量仪用于测试和分析来自电气电子设备和系统的信号。这种测量仪的示例包括谱分析仪和矢量信号分析仪，其可用于表征RF、微波和/或毫米波频谱中信号的频率和/或相位响应。校准是这种测量仪的重要特性。即，当使用这种测量仪测量信号(例如，待测设备(DUT)的输出信号)的特性(例如，频率响应)时，重要的是获知测量仪的测量通道的幅值和相位响应。在一些情况下，获知测量通道正在测量仪的指定参数内工作(例如，作为频率函数的幅值和相位响应在跨越指定频率跨度或范围...
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