技术编号:12951383
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及使集成电路与IC板电气连接的插座。更特别地,本发明涉及用于测试集成电路的测试插座,其中该测试插座使用卡尔文(Kelvin)电桥/连接器以提高针对标准IC板测试装置的精度。背景技术集成电路测试装置长期以来用在半导体行业中,以测试并评价离开制造线的芯片的质量。信号完整性是芯片设计和测试的重要方面。为此,期望将使集成电路引线与其相应的负载板焊盘互连的触点的导通部的阻抗维持在特定期望水平。设计的有效阻抗是多个因素的函数。这些因素包括导通路径的宽度和长度、制成导通结构的材料和材料厚度等。在测试诸...
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