技术编号:13011528
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及小型低压电器领域,具体涉及一种电子装置。背景技术研究发现电子产品的失效55%是由热设计不当引起的。而电子产品的结温与可靠性(每10万小时的失效率)的关系是一个指数型上升曲线。一般而言,对于一个设备,其中的电子元件的温度每升高10℃,系统的可靠性就会降低为原来的一半。电子设备的散热状况决定了电子系统的整体性能,过度载热严重影响电子设备的寿命及可靠性,因此合理的电子系统的设计,包括各生热元件的布局、散热元件的位置等,对保证系统散热效果、提高设备寿命,保证设备可靠性至关重要。随着设备的小...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。